Главная » | Библиографическое описание документа: | Игнатовский, Михаил Иванович Атомно-силовая микроскопия чистых поверхностей и выбор подложек для измерения нанообъектов / М. И. Игнатовский, В. В. Барсуков // Веснік Гродзенскага дзяржаўнага ўніверсітэта імя Янкі Купалы. Сер. 6. Тэхніка. – 2017. – Т. 7. – № 2. – С. 35-46.
| |||||||||||||
| Авторы: | Игнатовский М. И. Барсуков В. В. | |||||||||||||
| Ключевые слова: | Сотрудник ГрГУ | |||||||||||||
| URI документа: (Используйте для цитирования и ссылки на документ) |
https://elib.grsu.by/doc/24833 | |||||||||||||
| Расположен в разделе: | Технические науки | |||||||||||||
| ||||||||||||||
