| Библиографическое описание документа: | Шаронов, Г. В. Рентгеновская диагностика подложек синтетического монокристаллического алмаза для эпитаксиальных технологий / Г. В. Шаронов, И. И. Васильев, С. А. Петров // Вестник БГУ. Сер. 1, Физика. Математика. Информатика. – 2009. – № 3. – С. 21-24.
|
|
| Общее количество экземпляров: | 1 |
| Количество экземпляров | Места хранения | Адреса мест хранения | |
| 1 | Чит. зал.,УМК (В) | ||
