| Библиографическое описание документа: | Иванов, Алексей Юрьевич Анализ влияния аберраций на точность измерительного контроля прозрачных клиновидных подложек дифракционных элементов / А. Ю. Иванов, И. А. Лявшук, А. М. Ляликов // IV Международная конференция по фотонике и информационной оптике : сб. науч. тр., Москва, 28–30 января 2015 г. – М. : 2015. – С. 324–325.
|
|
| Общее количество экземпляров: | 1 |
| Количество экземпляров | Места хранения | Адреса мест хранения | |
| 1 | ЭИР. Труды преподавателей ГрГУ | www.elib.grsu.by | |
