| Библиографическое описание документа: | Шупан, Павел Иванович Обработка ACM-изображений и определение размерных характеристик наночастиц с помощью программы SurfaceXplorer / П. И. Шупан // Актуальные вопросы физики и техники [Электронный ресурс]: в 3 ч. Ч.3 : материалы VI Республиканской научной конференции студентов, магистрантов и аспирантов, Гомель, 26 апреля 2017 года. – Гомель : ГГУ им. Ф. Скорины, 2017. – С. 197-198.
|
|
| Общее количество экземпляров: | 1 |
| Количество экземпляров | Места хранения | Адреса мест хранения | |
| 1 | ЭИР. Труды преподавателей ГрГУ | www.elib.grsu.by | |
