Библиографическое описание документа: | Игнатовский, Михаил Иванович Атомно-силовая микроскопия чистых поверхностей и выбор подложек для измерения нанообъектов / М. И. Игнатовский, В. В. Барсуков // Веснік Гродзенскага дзяржаўнага ўніверсітэта імя Янкі Купалы. Сер. 6. Тэхніка. – 2017. – Т. 7. – № 2. – С. 35-46.
|
|
Общее количество экземпляров: | 1 |
Количество экземпляров | Места хранения | Адреса мест хранения | |
1 | Сектор периодических, справочных изданий и диссертационного фонда | ул. Ожешко, 22 - 116 |