Главная » | Библиографическое описание документа: | Иванов, Алексей Юрьевич Анализ влияния аберраций на точность измерительного контроля прозрачных клиновидных подложек дифракционных элементов / А. Ю. Иванов, И. А. Лявшук, А. М. Ляликов // IV Международная конференция по фотонике и информационной оптике : сб. науч. тр., Москва, 28–30 января 2015 г. – М. : 2015. – С. 324–325.
| |||||||||||||||
| Авторы: | Иванов А. Ю. Лявшук И. А. Ляликов А. М. | |||||||||||||||
| Ключевые слова: | Сотрудник ГрГУ | |||||||||||||||
| URI документа: (Используйте для цитирования и ссылки на документ) |
https://elib.grsu.by/doc/11552 | |||||||||||||||
| Расположен в разделе: | Физические науки | |||||||||||||||
| ||||||||||||||||
