Главная » | Библиографическое описание документа: | Ляликов, Александр Михайлович Высокочувствительный интерферометрический контроль качества дифракционных элементов / А. М. Ляликов // Квантовая электроника. – 2010. – Т. 40. – № 12. – С. 1141-1145.
| |||||||||||||||
| Авторы: | Ляликов А. М. | |||||||||||||||
| Ключевые слова: | Сотрудник ГрГУ, Интерферометрия, Интерференционная картина | |||||||||||||||
| URI документа: (Используйте для цитирования и ссылки на документ) |
https://elib.grsu.by/doc/118169 | |||||||||||||||
| Расположен в разделе: | Физические науки | |||||||||||||||
| ||||||||||||||||
