ГлавнаяГлавная » Репозиторий ГрГУ им. Янки Купалы » Технические науки » Применение метода импульсных вольтамперных характеристик для исследования приэлектродных слоев в консистентных диалектриках

Применение метода импульсных вольтамперных характеристик для исследования приэлектродных слоев в консистентных диалектриках

Библиографическое описание документа: Есипок, Александр Викторович
Применение метода импульсных вольтамперных характеристик для исследования приэлектродных слоев в консистентных диалектриках
/ А. В. Есипок, Ю. Г. Полягошко // Низкоразмерные системы - 2 : Физико-химия элементов и систем с низкоразмерным структурированием (получение, диагностика, применение новых материалов и структур): Сборник научных работ. Вып. 3 / Учреждение образования "Гродненский государственный университет имени Янки Купалы", Белорусский государственный университет ; под ред.: В. Ф. Стельмах, А. К. Федотов, С. А. Маскевич. – Гродно : ГрГУ, 2003. – С. 59-62. 
Статья
Авторы:Есипок А. В. Полягошко Ю. Г.
Ключевые слова: Сотрудник ГрГУ, Импульсная характеристика, Диэлектрики
URI документа:

(Используйте для цитирования и ссылки на документ)

https://elib.grsu.by/doc/23448
Расположен в разделе: Технические науки
Полный текст документа:
Файл Размер(мб)Формат
591938pdf.pdf 0.62PDF file Открыть/просмотреть

Статистика по документу

Общее количество загрузок: 457

Вестник ГрГУ UNIVERSUM Научная библиотека