Главная » | Библиографическое описание документа: | Шупан, Павел Иванович Обработка ACM-изображений и определение размерных характеристик наночастиц с помощью программы SurfaceXplorer / П. И. Шупан // Актуальные вопросы физики и техники [Электронный ресурс]: в 3 ч. Ч.3 : материалы VI Республиканской научной конференции студентов, магистрантов и аспирантов, Гомель, 26 апреля 2017 года. – Гомель : ГГУ им. Ф. Скорины, 2017. – С. 197-198.
| |||||||||||||
| Авторы: | Шупан П. И. | |||||||||||||
| Ключевые слова: | Веліканаў М., Наночастицы, Сотрудник ГрГУ, SurfaceXplorer | |||||||||||||
| URI документа: (Используйте для цитирования и ссылки на документ) |
https://elib.grsu.by/doc/24474 | |||||||||||||
| Расположен в разделе: | Технические науки | |||||||||||||
| ||||||||||||||
